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  • OPM-200日本santec高性能光功率計(jì)
    OPM-200日本santec高性能光功率計(jì)

    日本santec高性能光功率計(jì)OPM-200 描述 OPM-200是一款高性能光功率計(jì),能夠在840~1700nm的廣泛波長(zhǎng)范圍和-80~8 dBm的廣泛動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)進(jìn)行精確測(cè)量。 該設(shè)備在前面板設(shè)有兩個(gè)光探測(cè)器,并能在后面板連接最多兩臺(tái)遠(yuǎn)程頭,從而構(gòu)成最多四個(gè)光探測(cè)器的系統(tǒng)。

    更新時(shí)間:2024-11-22
  • TSL-570Santec 可調(diào)諧激光器 0.1pm 硅光子學(xué)測(cè)試用
    TSL-570Santec 可調(diào)諧激光器 0.1pm 硅光子學(xué)測(cè)試用

    Santec 可調(diào)諧激光器 0.1pm 硅光子學(xué)測(cè)試用 TSL-570 是一款高性能可調(diào)諧激光器,主要用于光通信組件、硅光子學(xué)、光子集成電路(PIC)和量子光學(xué)等領(lǐng)域的精密測(cè)試與表征。它憑借寬調(diào)諧范圍、高輸出功率和高信噪比等特點(diǎn),廣泛適用于光通信、光譜學(xué)、光纖傳感及干涉測(cè)量等行業(yè)。

    更新時(shí)間:2026-07-21
  • OPM-150日本santec多通道光功率計(jì)
    OPM-150日本santec多通道光功率計(jì)

    日本santec多通道光功率計(jì)OPM-150 提供24個(gè)單獨(dú)探測(cè)器 描述 Santec的OPM-150多通道光功率計(jì)是需要高通道計(jì)數(shù)的制造商或?qū)嶒?yàn)室的經(jīng)濟(jì)高效的解決方案。OPM-150可提供多達(dá)24個(gè)單獨(dú)的探測(cè)器,包括所有通道和內(nèi)置USB和以太網(wǎng)通信的同時(shí)功率測(cè)量。

    更新時(shí)間:2024-11-22
  • UIT-201日本protec紫外照度計(jì)
    UIT-201日本protec紫外照度計(jì)

    日本protec紫外照度計(jì)UIT-201 特征 1.通過(guò)更換受光部,可進(jìn)行2波長(zhǎng)區(qū)域(中心波長(zhǎng)365nm、405nm)的測(cè)量。 2.可切換干電池或外部電源※1。 3.主體~受光部延長(zhǎng)開普勒(標(biāo)準(zhǔn)選項(xiàng)2m)對(duì)應(yīng)?!?AC適配器(可選)

    更新時(shí)間:2026-07-25
  • SEC2020日本als光譜儀測(cè)量系統(tǒng)
    SEC2020日本als光譜儀測(cè)量系統(tǒng)

    日本als光譜儀測(cè)量系統(tǒng)SEC2020 獲得關(guān)于布、紙、無(wú)紡布、薄膜等的拉伸/剪切剛度、拉伸能量、伸長(zhǎng)率和恢復(fù)性的數(shù)據(jù)。 據(jù)說(shuō)拉伸性能和剪切性能數(shù)據(jù)會(huì)影響紋理的“剛度”和“張力”。據(jù)說(shuō)這些特性會(huì)影響“形狀穩(wěn)定性”和“皺紋形成”。 ?KES-FB1-A 拉伸剪切試驗(yàn)機(jī) ?KES-FB1-AW 拉伸剪切試驗(yàn)機(jī)(厚布用)

    更新時(shí)間:2024-07-13
  • SPZ-50PGMCarton體視顯微鏡 電子廠/珠寶鑒定維修檢測(cè)
    SPZ-50PGMCarton體視顯微鏡 電子廠/珠寶鑒定維修檢測(cè)

    Carton體視顯微鏡 電子廠/珠寶鑒定維修檢測(cè) SPZ-50PGM ,這款顯微鏡用途廣泛,特別適合電子制造、精密維修、珠寶鑒定及質(zhì)檢等行業(yè)。其108mm超大工作距離和6.7x-50x變焦功能,非常適合進(jìn)行手機(jī)維修、PCB檢測(cè)或珠寶鑲嵌等精細(xì)操作,是相關(guān)從業(yè)者和工廠的理想工具。

    更新時(shí)間:2026-06-26
  • US 08 M 100 G3-T4 /210539di-soric漫/鏡反射超聲波傳感 100mm測(cè)距
    US 08 M 100 G3-T4 /210539di-soric漫/鏡反射超聲波傳感 100mm測(cè)距

    di-soric漫/鏡反射超聲波傳感 100mm測(cè)距 US 08 M 100 G3-T4 /210539,這是一款非常小巧的工業(yè)自動(dòng)化元件,主要用于在空間受限的環(huán)境中進(jìn)行精確的物體檢測(cè)和距離測(cè)量。它既可設(shè)置為漫反射式也可設(shè)為鏡反射式,具備IO-Link智能通信功能。該傳感器對(duì)油污、灰塵不敏感,防護(hù)等級(jí)達(dá)IP67,非常適用于設(shè)備現(xiàn)代化改造、軟管內(nèi)物體識(shí)別、標(biāo)簽檢測(cè)及糾偏控制等場(chǎng)景。

    更新時(shí)間:2026-07-07
  • RFM330-M/19-35 RFM340-Mxylem 食品化工 液體糖度折射率測(cè)量 折光儀
    RFM330-M/19-35 RFM340-Mxylem 食品化工 液體糖度折射率測(cè)量 折光儀

    xylem 食品化工 液體糖度折射率測(cè)量 折光儀 RFM300-M系列是賽萊默旗下Bellingham + Stanley品牌的數(shù)字折射儀,具備帕爾貼溫度控制和寬光束光學(xué)技術(shù)。它能精準(zhǔn)測(cè)量液體濃度(如糖度Brix)和折射率,尤其擅長(zhǎng)處理非均質(zhì)、不透光樣品。該設(shè)備堅(jiān)固耐用,適用于食品飲料、化工等行業(yè),滿足工廠和實(shí)驗(yàn)室的高精度質(zhì)量控制需求。

    更新時(shí)間:2026-07-10
  • photoLab®日本xylem濾光片光度計(jì)
    photoLab®日本xylem濾光片光度計(jì)

    日本xylem濾光片光度計(jì)photoLab® 頂空氣體分析是 MAP 產(chǎn)品質(zhì)量控制的一個(gè)重要組成部分。準(zhǔn)確測(cè)量頂空氣體含量有助于確保始終如一的氣調(diào)包裝質(zhì)量,使用 ,操作員可以一眼判斷氣體成分是否符合規(guī)定含量。

    更新時(shí)間:2024-07-13
  • PetroAlert 9100日本ametek氣相色譜儀
    PetroAlert 9100日本ametek氣相色譜儀

    日本ametek氣相色譜儀PetroAlert 9100 我們的水分分析儀和變送器可確保您的過(guò)程符合規(guī)格參數(shù)。具有露點(diǎn)測(cè)量功能的分析儀在痕量水分技術(shù)領(lǐng)域處于市場(chǎng)地位,提供多種封裝以滿足任何過(guò)程要求,包括天然氣、氣體儲(chǔ)存、傳輸和貿(mào)易交接、煉油廠、石化、碳?xì)浠衔餁怏w、液體、二氧化碳、氫氣、爐氣等。

    更新時(shí)間:2024-07-13
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