SEL 晶圓裂紋檢測儀

產(chǎn)品型號：SEL-WCIS
更新時間：2026-07-10

簡要描述：SEL 晶圓裂紋檢測儀 SEL-WCIS，昭和電氣研究所的晶圓檢測設(shè)備專題頁，主要用途是展示其利用光學(xué)與傳感器技術(shù)融合的四大核心檢測產(chǎn)品。適用行業(yè)為半導(dǎo)體制造，專門用于硅（Si）、碳化硅（SiC）等晶圓在生產(chǎn)過程中的裂紋、邊緣缺陷、表面劃痕及形狀精度的自動化檢測與質(zhì)量控制

在線咨詢

產(chǎn)品詳情

品牌	其他品牌

日本昭和電氣研究所 (Showa Electric Laboratory) 旗下產(chǎn)品——晶圓（Wafer）檢測設(shè)備的專題介紹頁面。

SEL 晶圓裂紋檢測儀

公司簡介與核心理念

公司名稱：昭和電氣研究所 (SEL)
核心優(yōu)勢：擁有豐富的實驗設(shè)備和經(jīng)驗，致力于通過光學(xué)技術(shù)和傳感器技術(shù)的融合，將“不可見"的缺陷“可視化"。
服務(wù)模式：除了標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備，還提供根據(jù)客戶需求定制的OEM/ODM受托設(shè)計生產(chǎn)業(yè)務(wù)。
認(rèn)證資質(zhì)：公司已獲得 ISO9001:2015（質(zhì)量管理體系）和 ISO14001:2015（環(huán)境管理體系）認(rèn)證。

四大核心檢測產(chǎn)品線

該研究所針對半導(dǎo)體晶圓生產(chǎn)中的不同需求，開發(fā)了四類主要的檢測系統(tǒng)，具體如下表所示：

產(chǎn)品類別	核心檢測功能	技術(shù)亮點(diǎn)與應(yīng)用范圍
晶圓裂紋檢測 SEL-WCIS系列 (Wafer Crack Inspection)	檢測晶圓正反面的裂紋、凹痕（Dimple）、隆起等。	2020年專有技術(shù)。可將裂紋引起的微小形變可視化，適用于Si、SiC、LN、LT等多種晶圓材料。
晶圓邊緣/缺口檢測 SEL-WEIS系列 (Edge & Notch Inspection)	檢查晶圓邊緣（Bevel）、APEX（邊緣頂點(diǎn)）及缺口（Notch）的表面缺陷。	2019年專有技術(shù)。利用多臺相機(jī)（3-6臺）組合，可檢測微細(xì)缺陷及異物。
晶圓正反面檢測 (Front/Back Inspection)	檢測正反面的劃痕、滑移線（Slip）、顆粒（Particle）。	專有申請中。無論鏡面還是梨地（粗面）背景，均可精準(zhǔn)檢出劃痕；也可檢測滑移線。
晶圓邊緣形狀測量 SEL-REIS系列 (Edge Profile Measurement)	測量邊緣倒角（Bevel angle）、滾邊（Roll-off）及貼合精度。	可對貼合晶圓（Bonded Wafer）的貼合精度進(jìn)行測量，確保加工質(zhì)量。

技術(shù)特點(diǎn)總結(jié)

高精度與高速性：打破常識的低價位，同時實現(xiàn)高速和高檢測能力。
多缺陷同時檢測：一臺設(shè)備可同時檢測多種缺陷，提高生產(chǎn)效率。
廣泛的適用性：已在多家器件制造商（Device Makers）處投入使用，涵蓋硅（Si）、碳化硅（SiC）等多種晶圓品種。
定制化服務(wù)：針對客戶特定需求，提供定制化的檢測方案和產(chǎn)線集成。

SEL 晶圓裂紋檢測儀 SEL-WCIS，昭和電氣研究所的晶圓檢測設(shè)備專題頁，主要用途是展示其利用光學(xué)與傳感器技術(shù)融合的四大核心檢測產(chǎn)品。適用行業(yè)為半導(dǎo)體制造，專門用于硅（Si）、碳化硅（SiC）等晶圓在生產(chǎn)過程中的裂紋、邊緣缺陷、表面劃痕及形狀精度的自動化檢測與質(zhì)量控制。

在線咨詢

留言框

產(chǎn)品：
您的單位：
您的姓名：
聯(lián)系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細(xì)地址：
補(bǔ)充說明：
驗證碼：

請輸入計算結(jié)果（填寫阿拉伯?dāng)?shù)字），如：三加四=7

亚洲18+av影院在线,一本大道久久精品 调教,日本爆乳在线观看中文版,大鸡巴狂插少妇骚逼资源

SEL 晶圓裂紋檢測儀

公司簡介與核心理念

四大核心檢測產(chǎn)品線

技術(shù)特點(diǎn)總結(jié)

留言框

產(chǎn)品：

您的單位：

您的姓名：

聯(lián)系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細(xì)地址：

補(bǔ)充說明：

驗證碼：

亚洲18+av影院在线,一本大道久久精品调教,日本爆乳在线观看中文版,大鸡巴狂插少妇骚逼资源