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大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜測(cè)厚儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10 大塚SM-100光學(xué)干涉法無(wú)損薄膜厚度測(cè)量?jī)xSM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10 Yamato Scientific 膜厚計(jì) 涂層厚度檢測(cè)儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10 Otsuka Yamato智能膜厚計(jì)SM-100P Pro測(cè)厚儀，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10
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