歡迎光臨深圳九州工業(yè)品有限公司！
咨詢電話
13691609757
13691609757
products
產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
大塚OTSUKA Yamato玻璃塑料基材 薄膜測厚儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10 大塚SM-100光學(xué)干涉法無損薄膜厚度測量儀SM-100S / SM-100P，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10 Yamato Scientific 膜厚計(jì) 涂層厚度檢測儀SM-100S Standard，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10 Otsuka Yamato智能膜厚計(jì)SM-100P Pro測厚儀，適用于平整表面的樣品，如薄膜、玻璃等快速驗(yàn)證不同工藝參數(shù)下的薄膜厚度。
更新時(shí)間：2026-06-10
英國Elcometer 331混凝土保護(hù)層厚度測量儀 331² 系列 / 331-2-B，用于建筑結(jié)構(gòu)維護(hù)前的檢查，防止鉆孔時(shí)損壞鋼筋、管道或預(yù)應(yīng)力筋，避免結(jié)構(gòu)損傷。
更新時(shí)間：2026-06-25
美國filmetrics 薄膜測量儀 光學(xué)膜厚儀美國filmetrics 薄膜測量儀F10-AR-UV 輕松且經(jīng)濟(jì)地測量減反射涂層和硬質(zhì)涂層 F10-AR 是首的款專為簡單、經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的眼科抗反射 (AR) 涂層測量而設(shè)計(jì)的儀器。 AR 涂層測量儀器的成本只是當(dāng)今使用的大多數(shù)儀器的一小部分，它包含多項(xiàng)專有的優(yōu)良技術(shù)，使生產(chǎn)線操作員只需經(jīng)過幾分鐘的培訓(xùn)，即可在幾秒鐘內(nèi)獲得結(jié)論性的讀數(shù)。
更新時(shí)間：2026-06-24
美國filmetrics 膜厚測量儀F20通用薄膜厚度測量儀器 F20 是通用薄膜厚度測量儀器，在全球數(shù)千種應(yīng)用中得到使用。厚度和折射率可以在不到一秒的時(shí)間內(nèi)測量出來。與我們所有的厚度測量儀器一樣，F(xiàn)20 連接到 Windows® 計(jì)算機(jī)的 USB 端口并在幾分鐘內(nèi)完成設(shè)置。
更新時(shí)間：2026-06-24
您的位置：
在線咨詢
返回頂部