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dentsu sangyo玻璃異物劃痕 LED背光檢查燈 LP88 ,外觀缺陷檢測：用于玻璃、樹脂制品的針孔、氣泡、異物混入及劃痕檢測；電子元件檢測：作為LCD制造、基板工程及光學(xué)特性檢查的光源；尺寸與形狀測量：利用背光產(chǎn)生的清晰剪影進(jìn)行物體的有無檢測、輪廓識別及尺寸測量（如菲林片、薄膜）；其他工業(yè)檢測：包括飲料瓶的容量確認(rèn)及相機(jī)模組的評價(jià)檢查等。

日本kdn電源直接環(huán)形照明KDDR-P70 特征：亮度比傳統(tǒng)照明高出約 5 倍 規(guī)格 KDDR-P70/30 功耗（瓦） 4.8 方面 1 工作距離(毫米) 30 KDDR-P90/40 功耗（瓦）4.8 方面2 工作距離(毫米) 60 KDDR-P120/80 功耗（瓦） 7.2 方面3 工作距離(毫米) 80

日本kdn平面照明KDHM3系列 用于圖像處理 特征 1.KDHM2 已更新。 2.亮度大約是舊規(guī)格KDHM2的兩倍。 3.尺寸可按 30mm 的倍數(shù)生產(chǎn)。標(biāo)準(zhǔn)陣容最大為 120mm x 120mm。 4.標(biāo)準(zhǔn)陣容包括四種顏色：R、G、B 和 W。我們還可以制造紫外和紅外產(chǎn)品。 5.產(chǎn)品陣容中還新增了使用獨(dú)的特光學(xué)片的窄向型。 6.具有高表面均勻性的薄表面照明

日本seiwaopt多位置環(huán)形照明SRM 系列 通過改變照射距離可以適應(yīng)廣泛的應(yīng)用。 高亮度 LED 以高密度集中，提供均勻且極亮的照明。

山田光學(xué) LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt，山田光學(xué) YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源，可清晰檢出細(xì)微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷，發(fā)熱量低、壽命長久，適配人工質(zhì)檢與 AOI 自動化設(shè)備。廣泛用于半導(dǎo)體硅片、FPD 玻璃基板、光學(xué)鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測，適配無塵車間量產(chǎn)抽檢、成品終檢、實(shí)驗(yàn)室樣品觀測場景。

細(xì)微劃痕霧斑顆粒拋光不良 人工質(zhì)檢燈 LED，山田光學(xué)YP-250IL主要用于半導(dǎo)體晶圓和液晶基板的表面宏觀缺陷檢測，憑借高達(dá)400,000 Lx的照度，能清晰識別劃痕、異物和研磨不均等微小瑕疵。 適用行業(yè)以半導(dǎo)體制造和液晶面板生產(chǎn)為主，同時(shí)也適用于精密電子元器件、光學(xué)元件等需要高亮度、長壽命照明的工業(yè)自動化檢測場景。其核心價(jià)值在于用LED技術(shù)替代短命鹵素?zé)簦蠓档彤a(chǎn)線停機(jī)維護(hù)成本

日本AITEC艾泰克 手持式強(qiáng)光檢查燈LSP68x240W 高輝度化制品,應(yīng)用于有色工件的檢查亦可威力全發(fā) ●采用高亮度LED發(fā)光體、搭載獨(dú)自開發(fā)之光學(xué)系統(tǒng)?散熱結(jié)構(gòu)的直線式光源 ●替代更換金屬鹵素?zé)?線性光導(dǎo)纜照射架構(gòu)－實(shí)績豐富 ●搭載全新概念冷卻機(jī)構(gòu),大大抑制冷卻氣流對工件的影響

inside環(huán)形燈SMI-RL-4090-01 環(huán)形光源由LED陣列經(jīng)優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)而成，性能穩(wěn)定，安裝方便。以各種角度和顏色組合直接照射被測物體，可以避免陰影，突出成像特性。它還可以與擴(kuò)散器結(jié)合使用，使光線更加均勻和柔和。它是機(jī)器視覺中使用廣泛的光源之一。