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產品型號:YP-250IL / yamada-opt
更新時間:2026-06-23簡要描述:山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt,山田光學 YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源,可清晰檢出細微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷,發(fā)熱量低、壽命長久,適配人工質檢與 AOI 自動化設備。廣泛用于半導體硅片、FPD 玻璃基板、光學鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測,適配無塵車間量產抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。
| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |

①、超高照度:標準工作距離 220mm 下照度≥400,000Lx,約自然光 4 倍,微弱劃痕、霧斑、顆粒均可清晰顯現(xiàn)
②、光斑規(guī)格:照射光斑 φ40mm,單次覆蓋大范圍工件,減少移動定位
③、標準工作距離:220mm,預留充足操作空間,適配自動化治具、人工檢測臺
④、光線穩(wěn)定性:綜合亮度波動率≤1%,無頻閃、無亮度漂移,電壓 / 溫度波動不影響觀察效果
⑤、光源類型:高功率純白 LED,顯色均勻,還原工件真實表面光澤差異
①、超長使用壽命
LED 標稱壽命 10,000 小時,鹵素燈泡僅 30~50 小時,壽命提升約 200 倍;大幅減少燈泡采購、更換停機工時,降低產線運維成本。
②、低發(fā)熱、不傷工件
LED 熱輻射遠低于鹵素,不會造成晶圓、薄膜、樹脂熱變形,適配潔凈室、熱敏材料檢測場景。
③、調光精準線性
配套專用電源 LPS-250 采用電流式調光,亮度調節(jié)順滑無跳變;鹵素機型為電壓調光,明暗過渡生硬。支持高低照度一鍵切換,適配初檢、復檢不同需求。
④、機身小型輕量化
燈頭尺寸:107 (W)×229 (H)×114 (D) mm,整機重量 2.94kg;相比鹵素機型高度大幅降低,機臺集成更省空間,安裝支架適配性更強。
⑤、低維護、潔凈室友好
無頻繁更換燈泡產生的粉塵、油污污染,適配半導體無塵車間標準。
| 項目 | 參數(shù) |
|---|---|
| 光源 | 高功率白色 LED |
| 照度 | ≥400,000Lx(220mm 距離) |
| 照射光斑 | φ40mm |
| 標準工作距離 | 220mm |
| LED 壽命 | 10,000h |
| 色調 | 標準白光 |
| 冷卻方式 | 強制風扇風冷 |
| 安裝接口 | 標配 φ20 安裝軸,可搭配升降支架 |
| 外形尺寸 | 107×229×114 mm |
| 重量 | 2.94 kg |
| 工作環(huán)境溫度 | 0~40℃ |
· 輸入電壓:AC100~240V 50/60Hz,全球通用寬電壓
· 調光方式:連續(xù)電流無級調節(jié),亮度線性可控
· 面板數(shù)顯實時顯示輸出功率,直觀監(jiān)控亮度
· 整機亮度波動控制≤1% MAX
①、微損傷:0.2μm 級細微劃痕、刀紋、拋光紋路
②、表面異物:晶圓 / 玻璃基板微顆粒、灰塵、附著雜質
③、拋光不良:研磨不均、表面霧化 (Haze)、滑移線 (Slip)
④、成型瑕疵:金屬模具紋路、樹脂收縮、薄膜褶皺、涂層橘皮、微小裂紋
①、半導體行業(yè):硅晶圓、碳化硅襯底、拋光晶圓最終外觀檢測
②、FPD 顯示行業(yè):LCD/OLED 玻璃基板、蓋板玻璃拋光面檢查
③、光學元器件:光學鏡片、濾光片、棱鏡、拋光光學毛坯
④、精密加工:不銹鋼 / 鋁合金拋光件、精密模具、硬質合金工件
⑤、薄膜 / 涂布:光學膜、鍍層、鍍膜表面均勻度檢測
人工目視檢測工位(搭配升降支架、工作臺)
AOI 自動化檢測設備集成(固定支架對接流水線)
實驗室精密樣品宏觀觀察、來料質檢、成品終檢
YP-250IL:LED 款,長壽命、低發(fā)熱,適合量產產線長期使用
YP-250I:鹵素款,光譜更接近傳統(tǒng)光源,適合特定光譜需求、短時抽檢場景
山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt,山田光學 YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源,可清晰檢出細微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷,發(fā)熱量低、壽命長久,適配人工質檢與 AOI 自動化設備。廣泛用于半導體硅片、FPD 玻璃基板、光學鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測,適配無塵車間量產抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。
山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt,山田光學 YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源,可清晰檢出細微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷,發(fā)熱量低、壽命長久,適配人工質檢與 AOI 自動化設備。廣泛用于半導體硅片、FPD 玻璃基板、光學鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測,適配無塵車間量產抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。