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山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈

  • 產品型號:YP-250IL / yamada-opt
  • 更新時間:2026-06-23

簡要描述:山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt,山田光學 YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源,可清晰檢出細微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷,發(fā)熱量低、壽命長久,適配人工質檢與 AOI 自動化設備。廣泛用于半導體硅片、FPD 玻璃基板、光學鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測,適配無塵車間量產抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。

產品詳情
品牌其他品牌產地類別進口
應用領域環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合

一、產品概述

YP-250IL 是日本山田光學(Yamada Optics)專為精密表面宏觀缺陷檢測開發(fā)的高功率白光 LED 檢查光源,為傳統(tǒng)鹵素款 YP-250I 升級換代機型,完的美的替代鹵素光源,解決鹵素燈壽命短、發(fā)熱大、頻繁換燈停機的痛點,廣泛用于半導體、FPD 面板、光學元件、精密模具拋光面目視檢測與 AOI 設備集成。
核心定位:40 萬 lx 級超高均勻白光照明,強化微小凹凸對比度,檢出 0.2μm 級細微表面瑕疵。

山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈


二、核心光學性能


  1. ①、超高照度:標準工作距離 220mm 下照度≥400,000Lx,約自然光 4 倍,微弱劃痕、霧斑、顆粒均可清晰顯現(xiàn)

  2. ②、光斑規(guī)格:照射光斑 φ40mm,單次覆蓋大范圍工件,減少移動定位

  3. ③、標準工作距離:220mm,預留充足操作空間,適配自動化治具、人工檢測臺

  4. ④、光線穩(wěn)定性:綜合亮度波動率≤1%,無頻閃、無亮度漂移,電壓 / 溫度波動不影響觀察效果

  5. ⑤、光源類型:高功率純白 LED,顯色均勻,還原工件真實表面光澤差異


三、關鍵產品優(yōu)勢(對比鹵素 YP-250I)


  1. ①、超長使用壽命

    LED 標稱壽命 10,000 小時,鹵素燈泡僅 30~50 小時,壽命提升約 200 倍;大幅減少燈泡采購、更換停機工時,降低產線運維成本。

  2. ②、低發(fā)熱、不傷工件

    LED 熱輻射遠低于鹵素,不會造成晶圓、薄膜、樹脂熱變形,適配潔凈室、熱敏材料檢測場景。

  3. ③、調光精準線性

    配套專用電源 LPS-250 采用電流式調光,亮度調節(jié)順滑無跳變;鹵素機型為電壓調光,明暗過渡生硬。支持高低照度一鍵切換,適配初檢、復檢不同需求。

  4. ④、機身小型輕量化

    燈頭尺寸:107 (W)×229 (H)×114 (D) mm,整機重量 2.94kg;相比鹵素機型高度大幅降低,機臺集成更省空間,安裝支架適配性更強。

  5. ⑤、低維護、潔凈室友好

    無頻繁更換燈泡產生的粉塵、油污污染,適配半導體無塵車間標準。


四、完整硬件規(guī)格參數(shù)


1. 燈頭主體(YP-250IL)

項目參數(shù)
光源高功率白色 LED
照度≥400,000Lx(220mm 距離)
照射光斑φ40mm
標準工作距離220mm
LED 壽命10,000h
色調標準白光
冷卻方式強制風扇風冷
安裝接口標配 φ20 安裝軸,可搭配升降支架
外形尺寸107×229×114 mm
重量2.94 kg
工作環(huán)境溫度0~40℃

2. 配套電源 LPS-250

  • · 輸入電壓:AC100~240V 50/60Hz,全球通用寬電壓

  • · 調光方式:連續(xù)電流無級調節(jié),亮度線性可控

  • · 面板數(shù)顯實時顯示輸出功率,直觀監(jiān)控亮度

  • · 整機亮度波動控制≤1% MAX


五、可檢測缺陷類型


依托高對比度強光,精準識別各類拋光 / 加工瑕疵:
  1. ①、微損傷:0.2μm 級細微劃痕、刀紋、拋光紋路

  2. ②、表面異物:晶圓 / 玻璃基板微顆粒、灰塵、附著雜質

  3. ③、拋光不良:研磨不均、表面霧化 (Haze)、滑移線 (Slip)

  4. ④、成型瑕疵:金屬模具紋路、樹脂收縮、薄膜褶皺、涂層橘皮、微小裂紋


六、主流應用行業(yè)與工件


  1. ①、半導體行業(yè):硅晶圓、碳化硅襯底、拋光晶圓最終外觀檢測

  2. ②、FPD 顯示行業(yè):LCD/OLED 玻璃基板、蓋板玻璃拋光面檢查

  3. ③、光學元器件:光學鏡片、濾光片、棱鏡、拋光光學毛坯

  4. ④、精密加工:不銹鋼 / 鋁合金拋光件、精密模具、硬質合金工件

  5. ⑤、薄膜 / 涂布:光學膜、鍍層、鍍膜表面均勻度檢測


七、使用場景


  1. 人工目視檢測工位(搭配升降支架、工作臺)

  2. AOI 自動化檢測設備集成(固定支架對接流水線)

  3. 實驗室精密樣品宏觀觀察、來料質檢、成品終檢


八、同系列選型對比參考


  • YP-250IL:LED 款,長壽命、低發(fā)熱,適合量產產線長期使用

  • YP-250I:鹵素款,光譜更接近傳統(tǒng)光源,適合特定光譜需求、短時抽檢場景


山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt,山田光學 YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源,可清晰檢出細微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷,發(fā)熱量低、壽命長久,適配人工質檢與 AOI 自動化設備。廣泛用于半導體硅片、FPD 玻璃基板、光學鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測,適配無塵車間量產抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。

山田光學 LED光源 晶圓異物劃痕霧狀檢查燈YP-250IL / yamada-opt,山田光學 YP-250IL 為高照度 LED 檢測光源,可清晰檢出細微劃痕、霧斑、顆粒、拋光不良等微小表面缺陷,發(fā)熱量低、壽命長久,適配人工質檢與 AOI 自動化設備。廣泛用于半導體硅片、FPD 玻璃基板、光學鏡片、精密拋光模具、鍍膜薄膜工件檢測,適配無塵車間量產抽檢、成品終檢、實驗室樣品觀測場景。


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