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日本konicaminolta色彩照度計CL-200A 產(chǎn)品概述 主要用于測量LED、OLED等各類照明、投影儀等的色度、相關(guān)色溫、照度、主波長、刺激純度等。 這是一款小型、輕量的手持式測量儀器，符合 JIS AA 級標準。
更新時間：2024-11-02
日本meikikou剪刀式舉升機動力臂系列 像大地一樣的安定感！ 橫向移動小，上下移動平穩(wěn)！ 特別是，該剪式舉升機通過在舉升機臂中使用抗彎曲和扭曲的方管來增加剛性，以減少高升程剪式舉升機的弱點橫向晃動，并實現(xiàn)穩(wěn)定提升。與 Hyper 系列相比，水平振動降低了 50%，因此在將其用作高架工作臺時您可以感受到穩(wěn)定性，并且也可用于在各種應用中穩(wěn)定升降。
更新時間：2024-08-26
日本tekhne手持式露點儀TE-660HD 自動校準化學物質(zhì)清除功能 特征 外形緊湊，方便攜帶 精度：±2℃dp（環(huán)境溫度25℃時） 露點測量范圍：-60至+20℃dp 高響應速度 4-20毫安輸出 聚合物傳感器具有自動校準功能和優(yōu)異的長期穩(wěn)定性 使用 4 節(jié) AA 電池可運行 8 小時 追求簡單的操作性和價格 自動校準（化學物質(zhì)清除功能）
更新時間：2024-11-20
日本takatori半導體紫外線照射裝置TUV-1T 1. 能夠?qū)η懈钅z帶整個表面進行均勻照射。此外，它在晶圓表面內(nèi)實現(xiàn)了均勻的照度。 2. 即使UV燈老化，高取獨的特的技術(shù)也不會改變綜合照度，也不影響吞吐量。 3. 采取措施防止真空或空氣停止時框架掉落。 4.紫外燈更換工作簡單。 5. 采用抑制電壓波動引起的燈輸出波動的控制方法，確保穩(wěn)定的照射。
更新時間：2024-08-26
日本mitakakohki半導非接觸式三坐標測量機NH-3MAs 配備NH系列的所有基本形狀測量功能，可以使用專用軟件一次性測量透鏡和模具的橫截面形狀，并測量曲率和中心坐標。
更新時間：2024-08-24
日本mitakakohki半導體全周長三維測量儀MLP-3 非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現(xiàn)的復雜測量。點自動對焦探頭和每個軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題。
更新時間：2024-08-24
日本orc半導體UV照射器VUM-3500 用途：消除閃存和其他非易失性存儲器、圖像傳感器等的電荷和數(shù)據(jù) 特長 -采用最的適合去除電荷的254nm波長。 -因為是單一波長可使低溫處理成為可能。 -采用低入射角UV光，可以有效到達對象區(qū)域。 -降低了LSI的不良率?提高了信賴性。
更新時間：2024-08-24
日本orc半導體光刻機 PPS-8200p1/8300p1 用途：支持各種應用 特長 -寬頻譜光刻 (與菜單連動的 ghi線 gh線, i線的自動切換) -搭載可變NA功能 (可變?yōu)?.16和0.1) -最多8Field的拼接設計格式 -光學系統(tǒng)不受感光材揮發(fā)氣體和周圍環(huán)境中化學物質(zhì)影響
更新時間：2024-08-24
日本microtec半導體絲網(wǎng)印刷機 MT-80SP 對應了各類硅片尺寸的承載盒對承載盒型的全自動硅片用絲網(wǎng)印刷機。 設備結(jié)構(gòu)為：將承載盒（對應各類規(guī)格）裝載至上料部，通過水平搬送機械臂自動取出后，進行預對位（缺口檢測）并印刷，之后再次收納至承載盒。可高精度全自動地進行焊接凸點及聚乙烯覆蓋等的印刷?？蛇x裝進行FFU的設置。
更新時間：2024-08-24
日本 microscope3個同時視野 變焦顯微鏡YS05T 無需切換光路，3個同時視場，配備Ultra C接口 1.配備 1 個 C 接口的鏡筒，非常適合連接數(shù)碼相機和 iPhone。 2.同時三視新趨勢 3.標準 Ultra C 安裝座，具有齊焦/軸調(diào)節(jié)功能 4.總放大倍率為 6.7 倍至 45 倍的變焦體視顯微鏡
更新時間：2024-08-23
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