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更新時間：2023-11-23 
瀏覽次數(shù)：808特征如下：
Laue 相機節(jié)省空間且易于操作。
可以高速獲取單晶材料的 X 射線衍射（勞厄斑）圖像。
這是一種桌面型，結合了風冷式 X 射線發(fā)生器和高靈敏度探測器。
X 射線垂直向下入射，因此可以輕松設置樣品。
使用顯微鏡可以進行精確對準。
緊湊輕便，節(jié)省空間。
使用示例
主平面方向的測量
檢查并調整切割方向
結晶度評價
晶體生長、加工相關
半導體器件制造和開發(fā)
用途/特長：
方位·調整確認結晶
空冷·通過小型化節(jié)省空間
結晶性的評價
測定簡單操作·高速
X射線單晶方位測定裝置s-Laue
桌面型任何人簡單測量
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