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產(chǎn)品分類(lèi)技術(shù)文章/ article
更新時(shí)間：2026-06-18 
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復(fù)雜背景下的缺陷“隱身"：在PCB板檢測(cè)等場(chǎng)景中，當(dāng)金屬導(dǎo)電區(qū)被透明膠水或三防涂覆層覆蓋時(shí)，傳統(tǒng)AOI（自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)）設(shè)備無(wú)法穿透涂層，導(dǎo)致焊盤(pán)缺陷或漏銅等隱形瑕疵極易被漏檢。
物理?yè)p傷與表面污染的混淆：在精密面板或光棒檢測(cè)中，肉眼或普通相機(jī)難以區(qū)分表面的劃痕、裂紋與灰塵、油污等污染，容易造成誤判，增加不必要的返工成本。
微小色差與成分不均難以量化：在LED屏或特殊材料制造中，傳統(tǒng)色度儀無(wú)法滿足微米級(jí)的高精度要求，難以精準(zhǔn)識(shí)別發(fā)光強(qiáng)度偏移或材料內(nèi)部的密度不一致。
穿透遮擋，讓隱形缺陷顯形：得益于中波紅外波段的光譜特性，AHS-U20MIR 能夠穿透部分透明涂層和遮擋物。通過(guò)分析不同材質(zhì)在特定波段的吸收與反射差異，相機(jī)可以直接識(shí)別出被膠水覆蓋的焊盤(pán)缺陷或涂覆液溢出區(qū)域，通通消除檢測(cè)盲區(qū)。
多維光譜分析，精準(zhǔn)區(qū)分瑕疵類(lèi)型：面對(duì)復(fù)雜的表面狀況，AHS-U20MIR 利用多波段聯(lián)合分析技術(shù)，能夠敏銳捕捉物理?yè)p傷與表面污染物在不同光譜下的響應(yīng)差異。無(wú)論是微小的劃痕還是指紋油污，都能被精準(zhǔn)分類(lèi)，大幅提升質(zhì)檢的準(zhǔn)確性。
像素級(jí)物質(zhì)解析，實(shí)現(xiàn)高精度管控：通過(guò)生成包含波長(zhǎng)和空間信息的“光譜立方體"，該相機(jī)能夠識(shí)別傳統(tǒng)手段難以察覺(jué)的材料特性變化。無(wú)論是檢測(cè)復(fù)合材料內(nèi)部的微小裂紋、氣泡，還是評(píng)估焊錫的均勻性與質(zhì)量，AHS-U20MIR 都能提供高精度的定量分析，確保產(chǎn)品出廠標(biāo)準(zhǔn)。
除了卓的越的識(shí)別能力，AHS-U20MIR 采用推掃式非接觸成像方式，避免了物理接觸對(duì)高附加值產(chǎn)品造成的二次損傷。配合其內(nèi)置的 GigE Vision 千兆以太網(wǎng)接口和超高速數(shù)據(jù)傳輸能力，它能夠無(wú)縫集成到現(xiàn)有的自動(dòng)化生產(chǎn)線中。結(jié)合智能圖像處理算法，AHS-U20MIR 實(shí)現(xiàn)了從光譜采集、缺陷分類(lèi)到結(jié)果輸出的全閉環(huán)自動(dòng)化檢測(cè)流程，幫助制造企業(yè)大幅降低廢品率，提升整體生產(chǎn)效率與產(chǎn)品可靠性。
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