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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
日本disco半導(dǎo)體電鑄結(jié)合劑刀片NBC-Z 系列 適用于從晶圓到基板的各種切割加工，實(shí)現(xiàn)優(yōu)良的切割能力 加工對(duì)象：硅晶圓、化合物半導(dǎo)體晶圓（GaAs、GaP等）、各類半導(dǎo)體封裝等。 NBC-Z系列是由迪思科公司獨(dú)的家設(shè)計(jì)開發(fā)出的超薄、高性能切割刀片。采用電鑄型結(jié)合劑，同時(shí)實(shí)現(xiàn)了優(yōu)良的切割能力和較長的使用壽命。另外，該產(chǎn)品系列種類齊全，能夠廣泛地適用于半導(dǎo)體晶圓，陶瓷及CSP等半導(dǎo)體封裝材料的切割
更新時(shí)間：2024-08-26
日本takatori半導(dǎo)體紫外線照射裝置TUV-1T 1. 能夠?qū)η懈钅z帶整個(gè)表面進(jìn)行均勻照射。此外，它在晶圓表面內(nèi)實(shí)現(xiàn)了均勻的照度。 2. 即使UV燈老化，高取獨(dú)的特的技術(shù)也不會(huì)改變綜合照度，也不影響吞吐量。 3. 采取措施防止真空或空氣停止時(shí)框架掉落。 4.紫外燈更換工作簡單。 5. 采用抑制電壓波動(dòng)引起的燈輸出波動(dòng)的控制方法，確保穩(wěn)定的照射。
更新時(shí)間：2024-08-26
日本mitakakohki半導(dǎo)非接觸式三坐標(biāo)測量機(jī)NH-3MAs 配備NH系列的所有基本形狀測量功能，可以使用專用軟件一次性測量透鏡和模具的橫截面形狀，并測量曲率和中心坐標(biāo)。
更新時(shí)間：2024-08-24
日本mitakakohki半導(dǎo)體全周長三維測量儀MLP-3 非接觸式全的方位輪廓測量：MLP-3 專門從事傳統(tǒng)坐標(biāo)測量機(jī)、投影儀和激光顯微鏡無法實(shí)現(xiàn)的復(fù)雜測量。點(diǎn)自動(dòng)對(duì)焦探頭和每個(gè)軸的控制（包括旋轉(zhuǎn)）解決了困擾測量人員的問題。
更新時(shí)間：2024-08-24
日本orc半導(dǎo)體UV照射器VUM-3500 用途：消除閃存和其他非易失性存儲(chǔ)器、圖像傳感器等的電荷和數(shù)據(jù) 特長 -采用最的適合去除電荷的254nm波長。 -因?yàn)槭菃我徊ㄩL可使低溫處理成為可能。 -采用低入射角UV光，可以有效到達(dá)對(duì)象區(qū)域。 -降低了LSI的不良率?提高了信賴性。
更新時(shí)間：2024-08-24
日本orc半導(dǎo)體光刻機(jī) PPS-8200p1/8300p1 用途：支持各種應(yīng)用 特長 -寬頻譜光刻 (與菜單連動(dòng)的 ghi線 gh線, i線的自動(dòng)切換) -搭載可變NA功能 (可變?yōu)?.16和0.1) -最多8Field的拼接設(shè)計(jì)格式 -光學(xué)系統(tǒng)不受感光材揮發(fā)氣體和周圍環(huán)境中化學(xué)物質(zhì)影響
更新時(shí)間：2024-08-24
日本microtec半導(dǎo)體絲網(wǎng)印刷機(jī) MT-80SP 對(duì)應(yīng)了各類硅片尺寸的承載盒對(duì)承載盒型的全自動(dòng)硅片用絲網(wǎng)印刷機(jī)。 設(shè)備結(jié)構(gòu)為：將承載盒（對(duì)應(yīng)各類規(guī)格）裝載至上料部，通過水平搬送機(jī)械臂自動(dòng)取出后，進(jìn)行預(yù)對(duì)位（缺口檢測）并印刷，之后再次收納至承載盒?？筛呔热詣?dòng)地進(jìn)行焊接凸點(diǎn)及聚乙烯覆蓋等的印刷?？蛇x裝進(jìn)行FFU的設(shè)置。
更新時(shí)間：2024-08-24
日本 microscope3個(gè)同時(shí)視野 變焦顯微鏡YS05T 無需切換光路，3個(gè)同時(shí)視場，配備Ultra C接口 1.配備 1 個(gè) C 接口的鏡筒，非常適合連接數(shù)碼相機(jī)和 iPhone。 2.同時(shí)三視新趨勢 3.標(biāo)準(zhǔn) Ultra C 安裝座，具有齊焦/軸調(diào)節(jié)功能 4.總放大倍率為 6.7 倍至 45 倍的變焦體視顯微鏡
更新時(shí)間：2024-08-23
日本 microscope雙目變倍體視顯微鏡MyDesk Zunta 2 總放大倍數(shù)7x~45x 支架臂型（還包括標(biāo)準(zhǔn)桿架） 照明帶 LED 環(huán)形照明和電池供電
更新時(shí)間：2024-08-23
日本nykk在線露點(diǎn)儀6020 由于新軟件的開發(fā)，露點(diǎn)計(jì) 6020 具有高度的靈活性和各種可自由配置的菜單驅(qū)動(dòng)選項(xiàng)，允許在各種應(yīng)用中連續(xù)監(jiān)測露點(diǎn)測量，從高純氣體到該露點(diǎn)計(jì)適用于干燥空氣、天然氣等。此外，內(nèi)置微處理器可進(jìn)行精確的校準(zhǔn)調(diào)整，傳感器檢測部分提供出色的靈敏度、重復(fù)性和響應(yīng)速度，使其成為高度可靠的露點(diǎn)計(jì)。
更新時(shí)間：2024-08-23
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