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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
產(chǎn)品型號(hào)：HM-1000
更新時(shí)間：2024-11-07簡要描述：日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000 特征這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。1.最多可檢測8層厚度。2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池,綜合 |
日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
日本pulstec透明體厚度/波紋度測量儀HM-1000
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
特征
這是一種應(yīng)用OCT（光學(xué)相干斷層掃描）技術(shù)的用于玻璃等透明物體的無損斷層測量設(shè)備。
1.最多可檢測8層厚度。
2.測量范圍為20μm至17mm，重復(fù)性為2μm。
3.測量速度快（250次/秒），可進(jìn)行高精度測量。
4.即使對于具有曲面或特殊形狀的物體，我們也可以提出最佳系統(tǒng)。
使用示例
1.透明樹脂板和薄膜的厚度和波紋度測量
2.平板顯示器玻璃層、樹脂層、粘合層厚度測量
3.測量透明管內(nèi)徑
4.鏡片厚度測量
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