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產(chǎn)品分類產(chǎn)品中心/ products
TWIN NINES TN?A1 納米表面粗糙度?形狀測量儀 Nano?Seven TN?A1 納米表面粗糙度形狀測量儀采用光外差干涉非接觸檢測，0.1nm 分辨率，可檢測粗糙度、形貌、臺階段差與劃痕。測量速度快無需防震臺，適配硅晶圓、鉭酸鋰基板，用于半導(dǎo)體、光學(xué)元器件、精密加工領(lǐng)域，兼顧實驗室研發(fā)與產(chǎn)線產(chǎn)品表面質(zhì)量全檢管控。
更新時間：2026-08-20 晶圓粗糙度無損檢測 半導(dǎo)體CMP后表面評估 該產(chǎn)品主要用于亞納米級表面粗糙度、臺階高度及三維形貌的非接觸式精密測量。廣泛適用于半導(dǎo)體晶圓檢測、光學(xué)器件加工及精密機(jī)械制造等行業(yè)，能高效替代傳統(tǒng)AFM實現(xiàn)全數(shù)檢查，顯著提升良品率與生產(chǎn)效率。
更新時間：2026-08-20
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