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產(chǎn)品分類(lèi)
更新時(shí)間:2026-06-17
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微小劃痕:能夠清晰呈現(xiàn)物體表面的細(xì)微損傷、加工刀紋以及拋光過(guò)程中產(chǎn)生的淺表性劃痕。
異物與顆粒:在半導(dǎo)體晶圓或玻璃基板等光滑表面上,有效凸顯附著的灰塵、微塵顆粒及其他外來(lái)雜質(zhì)。
表面平整度缺陷:用于檢查研磨或拋光工序后的不均勻痕跡,包括表面霧化(Haze)、滑移線(Slip)以及局部的光澤差異。
成型與涂層瑕疵:可識(shí)別樹(shù)脂部件的收縮痕跡、涂裝表面的橘皮紋、裂紋以及薄膜材料的皺褶。
半導(dǎo)體與電子材料:硅晶圓(Si Wafer)、液晶基板、玻璃基板的最終成品表面。
精密加工件:金屬板、精密模具、機(jī)械零件的拋光面。
外觀件與材料:涂裝面、木材、皮革、樹(shù)脂成型品等的外觀全檢。
YP-250IL通過(guò)提供相當(dāng)于自然太陽(yáng)光4倍以上的照度,配合優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì),能夠大幅增強(qiáng)物體表面微小凹凸的陰影對(duì)比度。這種強(qiáng)光照射方式使得檢測(cè)人員能夠快速、客觀地判斷產(chǎn)品表面質(zhì)量,從而有效降低漏檢率,提升工業(yè)品控水平。
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