太陽能面板劃痕檢測總漏檢？Aitec System SU-Power系列聚光燈照明來幫忙

更新時間：2026-09-05

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在工件外觀檢測環(huán)節(jié)，細(xì)微劃痕、凹痕、形變等微小缺陷一直是檢測難題。普通散射光源打光后，缺陷特征被光線掩蓋，目視觀察很難分辨，極易出現(xiàn)漏檢，直接影響產(chǎn)品出廠品質(zhì)。尤其鋼板、玻璃、晶片、光伏電池片、金屬零部件這類產(chǎn)品，對表面瑕疵管控標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)苛，普通光源已經(jīng)無法滿足遠(yuǎn)距離檢測的使用需求。

SU?Power 系列 LSP47NW 長距離點狀照明，是專為目視檢測與機器視覺圖像處理開發(fā)的高功率聚光 LED 光源，針對性解決遠(yuǎn)距離檢測照度不足、缺陷成像不明顯的痛點。

該光源搭載鏡頭移動調(diào)節(jié)機構(gòu)，可靈活調(diào)整照射光斑直徑，適配不同尺寸工件檢測；采用 LED 恒流驅(qū)動方案，支持亮度調(diào)節(jié)，無頻閃，發(fā)熱更少，長時間人工目視作業(yè)也能減輕人眼疲勞。搭配高定向聚光光路，長距離照射條件下依舊可以輸出超高照度，將工件表面劃痕、凹凸、變形等微弱缺陷直觀凸顯出來。

從實際檢測效果可以看到，普通散射光照射時，工件表面劃痕模糊不清；更換 SU?Power LSP47NW 點狀聚光照明之后，原本難以察覺的劃痕缺陷直接清晰顯現(xiàn)，大幅提升缺陷檢出效率。

?主要適用行業(yè)與檢測場景

光伏行業(yè)：太陽能電池板表面劃痕、損傷檢測
金屬加工：鋼板、各類金屬工件表面凹痕、劃痕、形變檢測
光學(xué)半導(dǎo)體：玻璃、晶片外觀缺陷、邊緣瑕疵檢測
機器視覺：圖像處理補光、人工目視外觀檢查

產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)配置電纜長度 500mm，整機功耗約 50W，整機重量約 1.2kg，適配 LPAC1?0575W?10R 電源。還可選配專用固定支架，以及多色濾光片，靈活適配不同材質(zhì)工件的打光需求，滿足多樣化檢測工況。

面對高要求的外觀品質(zhì)管控，選對光源，缺陷識別事半功倍。SU?Power LSP47NW 長距離點狀聚光照明，為工件表面缺陷檢測提供可靠的光源解決方案。

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